X射线荧光分析仪|涂镀层厚度测试仪|材料分析仪|纳米压痕测试仪|划痕仪|电导率测试仪|铁素体含量测试仪|表现粗糙度|孔隙率测试|盐污染测试仪|结露点测试仪|
FISCHERSCOPE®X射线XAN®500是目前最通用的X射线荧光系统。作为一款手持式XRF分析仪,它非常适合在生产线上检查大型零件(如飞机零件,管道或涡轮叶片)上的镀层;
与市场上其他便携式X射线荧光设备相比,FISCHERSCOPE XAN500可以非常精确地确定镀层厚度。它的三点支撑设计使其易于正确放置,并在整个测量过程中保持稳定。高质量的硅漂移检测器(SDD)确保了分析合金层(如锌镍合金)所需的精度。
但是,XAN 500不仅仅是一个用于大型零件的测量系统。借助可选的测量箱,只需几个简单的步骤即可将其转换为台式仪器。 这样您就可以快速、轻松地检查小零件,如螺母和螺栓。
通用手持式X射线荧光分析仪,即使材料组合困难复杂的情况下,也可以进行精确的镀层厚度测量和材料分析;符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 标准
重量1.9 kg
一次电池充电可持续运行6个小时
测量点:3毫米Ø
高分辨率硅漂移检测器
用于户外的IP54等级
用作台式设备的可选测量箱;
使用完整版WinFTM®软件进行数据统计
测试大型样件,装配测量箱后也可以测试小样件
一次测试同时测定镀层的厚度和成分(例如,Fe上的ZnNi合金)
未知合金的无标准片测量
大型镀层零件(例如机器部件和外壳)的测量
电镀层的测试
电镀液金属含量的分析